Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid

Authors

  • Joaquín Bosque
  • Concepción Díaz
  • María Ángeles Díaz
  • Montserrat Gómez
  • Diego González
  • Víctor M. Rodríguez
  • María Jesús Salado

Keywords:

Riesgo tecnológico, exposición a riesgos, cartografía de riesgos, SIG, Madrid (España), Arc/Info.

Abstract

En la cartografía de riesgos existen dos componentes de carácter espacial: la definición y caracterización de las áreas expuestas, por una parte y, por otra, el análisis de la vulnerabilidad de la población y el territorio. En este artículo, la atención se centra exclusivamente en el primer componente, la exposición. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnológicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de cálculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algún riesgo, la intensidad de la exposición a riesgos en cada punto y la “probabilidad espacial” de ser afectado por un algún peligro de tipo tecnológico en la Comunidad de Madrid (España).

How to Cite

Bosque, J., Díaz, C., Díaz, M. Ángeles, Gómez, M., González, D., Rodríguez, V. M., & Salado, M. J. (2014). Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid. GeoFocus. International Review of Geographical Information Science and Technology, (4), 44–78. Retrieved from https://www.geofocus.org/index.php/geofocus/article/view/42

Issue

Section

Artículos